BS EN 60749-36-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.稳态加速
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 11:23:16 浏览:8102
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Acceleration,steadystate
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.稳态加速
【标准号】:BSEN60749-36-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-06-19
【实施或试行日期】:2003-06-19
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;加速度试验;电气工程;气候试验;电子工程;集成电路;半导体;环境试验;半导体器件;机械试验;电学测量;电子设备及元件;元部件;气候
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749providesatestfordeterminingtheeffectsofconstantaccelerationoncavity-typesemiconductordevices.Itisanacceleratedtestdesignedtoindicatetypesofstructuralandmechanicalweaknessesnotnecessarilydetectedinshockandvibrationtest.Itmaybeusedasahighstress(destructive)testtodeterminethemechanicallimitsofthepackage,internalmetallisationandleadsystem,dieorsubstrateattachment,andotherelementsofthemicroelectronicdevice.Whenproperstresslevelshavebeenestablishedthistestmethodmayalsobeemployedasanon-destructivein-line100%screentodetectandeliminatedeviceswithlowerthannormalmechanicalstrengthsinanyofthestructuralelements.Ingeneral,thisaccelerationsteady-statetestmethodisinconformitywithIEC60068-2-7but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.稳态加速
【标准号】:BSEN60749-36-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-06-19
【实施或试行日期】:2003-06-19
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;加速度试验;电气工程;气候试验;电子工程;集成电路;半导体;环境试验;半导体器件;机械试验;电学测量;电子设备及元件;元部件;气候
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749providesatestfordeterminingtheeffectsofconstantaccelerationoncavity-typesemiconductordevices.Itisanacceleratedtestdesignedtoindicatetypesofstructuralandmechanicalweaknessesnotnecessarilydetectedinshockandvibrationtest.Itmaybeusedasahighstress(destructive)testtodeterminethemechanicallimitsofthepackage,internalmetallisationandleadsystem,dieorsubstrateattachment,andotherelementsofthemicroelectronicdevice.Whenproperstresslevelshavebeenestablishedthistestmethodmayalsobeemployedasanon-destructivein-line100%screentodetectandeliminatedeviceswithlowerthannormalmechanicalstrengthsinanyofthestructuralelements.Ingeneral,thisaccelerationsteady-statetestmethodisinconformitywithIEC60068-2-7but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
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